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壓力傳感器芯片參數自(zì)動測試系統 BE-CP100
    發布時間: 2021-05-02 23:11    

動探針台+專用測試儀，可高速完成3~8英寸矽壓力傳感器器件(jiàn)芯片的自(zì)動檢測，可完成阻值、耐壓、反流、失調電壓等測試。

壓力傳感器芯片參數自(zì)動測試系統 BE-CP100

（1）應用場景：
自(zì)動探針台+專用測試儀，可高速完成3~8英寸矽壓力傳感器器件(jiàn)芯片的自(zì)動檢測，可完成阻值、耐壓、反流、失調電壓等測試。

（2）主要特點：

  • ★ 适用于3~8英寸芯片

  • ★ 工(gōng)作行程:X軸180m,Y軸220mm,Z軸5m,θ軸±15°

  • ★ X.Y.Z.θ解析度分别為:1um、1um、1um、0.0015°

  • ★ 工(gōng)作步距(X,Y):公制(zhì)0.001~9.99

  • ★ 主要測試功能:圓形、探邊、環型測試;壞點重測;分類測試、自(zì)定義圖形測試等

  • ★ 打點方式:實時、滞後、測後、脫機:

  • ★ Windows中(zhōng)文操作界面, Mapping動态顯示

  • ★ 顯微(wēi)鏡為10~67倍連續調節,環形燈照(zhào)明(míng)。




（3）可根據用戶使用條件(jiàn)定制(zhì)需要的規格，有關技術指标請(qǐng)索取産品詳細說(shuō)明(míng)。


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